OptiFPP: Punto de Obstrucción del Filtro en Frío

OptiFPP: Punto de Obstrucción del Filtro en Frío

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CFPP: EN 116, EN 16329, IP 309, ASTM D 6371, JIS K 2288
CP: Conforme a ASTM D5771, IP 444, EN 23015, EN 590
Correlación con ASTM D2500, ISO 3015, IP 219, JIS K2269

El analizador de próxima generación para el Punto de Obstrucción del Filtro en Frío combina un sistema de enfriamiento integrado patentado y un mecanismo de detección altamente preciso en un instrumento ultra compacto y fácil de usar. El analizador OptiFPP de ISL ofrece pruebas automatizadas de CFPP en estricto cumplimiento con las condiciones de EN116 y EN16329. OptiFPP controla con precisión el enfriamiento del revestimiento y el vacío controlado electrónicamente ajusta la extracción de la muestra a través de un filtro de malla, según las condiciones del método. Una vez que la formación de cristales inhibe el flujo de la muestra dentro de un tiempo establecido, se detecta, muestra y almacena un valor de CFPP. Se pueden generar informes detallados, que muestran cualquier punto anormal, así como el comportamiento de la temperatura de la muestra durante la prueba.

El kit de punto de nube está disponible con un sensor de temperatura de acero inoxidable y vidrio. También está disponible para la compra una cabeza de medición completa con sonda, unidad de filtro y pipeta.

Características – Beneficios

  • Las cabezas sin cable contienen tanto las conexiones eléctricas para el detector como una conexión de vacío mecánica para la pipeta.
  • Sistema de enfriamiento totalmente autónomo para pruebas a temperaturas ultra bajas; ahorra energía; elimina el calor, ruido, conexiones líquidas externas y vapores tóxicos de las unidades de enfriamiento externas.
  • Visualización en tiempo real del progreso y resultados de la prueba.
  • Operación autónoma y/o controlada por PC.
  • Enfriamiento de la muestra escalonado o lineal en total cumplimiento con EN 116 y EN 16329.
  • Limpieza automática integrada con dos solventes, que puede operar mientras se realiza una prueba de muestra separada.
  • Capacidad para realizar pruebas de punto de nube con la cabeza CP opcional.
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